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按鍵壽命試驗機適用于按鍵開關、計算機鍵盤、導電橡膠按鍵或同類型按鍵的壽命老化試驗。本機采用微處理器控制,每秒1-4次,經功放推動電磁鐵產生擊打運動,擊打力大小可通過加到電磁鐵經圈上的電壓高低控制。各擊打按鍵產生的有效(導通)或無效(不導通)信號數(shù)據(jù)被存儲芯片分別記錄下來并可由LCD屏幕查詢顯示。